NFC EMVCo
NFC&EMVCoの検証テストから受託開発
NFC電圧測定、電圧感度、共振周波数テスト
NFCの基礎動作の検証で、潜在的なバグを発掘
NFCデバイスの電圧感度から共振周波数のテスト
ポジティブワンでは、NFCデバイス全般の電圧感度テスト、共振周波数のテストができ、RF測定装置をご提案します。デバッグから品質保証のテストができます。テスト用DUT(市販NFCデバイス、テスト用リファレンスNFCを利用することにより、潜在的なバグを発見することができないことがあります。潜在的なバグを発見するには、定量なテスト結果を求めることにより、信頼性が高いテストを行うことができます。
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NFC-TESTER (問い合わせ型式;POC-NFCFORUM-BASE)
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NFCFORUM準拠アンテナ治具(Pollerx3、Listenerx3)
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共振周波数のテスト用アンテナ
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NFCFORUMのポジション治具
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各種コード
機材概要
共振周波数テスト(S21)
NFCデバイスの大きなパフォーマンスを与えるのは、周波数の応答です。小さいコイルである場合、NFC動作とパフォーマンスを確保するために、共振周波数が正確な範囲に収まっていることが必要です。この定量的ななデータに基づくことにより、NFCの基本動作の検証が可能です。
多機能のRFネットワークアナライザは高額ですが、最低限の共振周波数のテストが可能であり、格安です。開発時のデバッグから製品ラインのテストまで多様に使えるRF計測ツールです。
NFCのRXとTXの検証
NFCのRXとTXNFCは、RX感度とTXパラメータの数的なデータを取ることにより、信頼性テストができます。RXの感度レベルを測定からDUTのパフォーマンスを測定でき、TXの測定はRFトランシーバーのパラメータテストの欠陥の特定に役に立ちます。
NFCカードのRXとTXの検証
①NFCカード(TX): 負荷変調、電圧を計測
②NFCカード(RX) ; DUTが検知できる信号レベルの最低値を計測でき
ます。10V~0Vの間に、シグナルを発生させ、応答をモニタリングします。
NFCリーダライタのRXとTXの検証
③NFCリーダライタ(TX): VCDレベルの電圧測定
④NFCリーダライタ(RX);DUTが検知できる信号レベルの最低値を計測で
きます。10V~0Vの間に、シグナルを発生させ、応答をモニタリングします。